Multimode 8 Mikroskope in inerter Atmosphäre
Aktualisierte Ausrüstung mit einem Nanoscope V Controller für topographische Bildgebung, lokale Untersuchungen von mechanischen (Scanmodi: Contact, Friction, Tapping und Peak Force Tapping (PFT)) und elektrischen (leitendes AFM und Peak Force TUNA) Eigenschaften. Zusätzliche elektronische Instrumentierung: SPECS (Nanonis) Non-Contact-Modi, Contact Resonant, Frequenzmoduliertes AFM, Dual Frequency Resonant Tracking, Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Kelvin-Kraftmikroskopie (KPFM). Schutzgaskonditionierung und gekoppelt mit einer ALD-Kammer (Atomic Layer Deposition) für die lokale Untersuchung von Materialeigenschaften unter modulierten chemischen Reaktionen.
Stärken:
- Komplette Plattform für: Morphologische und mechanische Oberflächeneigenschaften: Topographie-, Standardrauhigkeits- und Filmdickenmessungen, Materialvielfalt ohne Größen- oder Dickenbegrenzung + Kartierung von Adhäsions-, Deformations- und Dissipationseigenschaften gleichzeitig mit der Topographie. Bestimmung des lokalen Elastizitätsmoduls. Elektrische Eigenschaften und Ladungstransportmechanismen von (halb-)leitfähigen Materialien: Lokale Kartierung von elektrischem Strom, Widerstand, Arbeitsfunktion und Oberflächenpotenzial. Hohe elektrische räumliche Auflösung. Empfindlichkeit von Strommessungen < 100fA. Messungen in kontrollierter Umgebung durchgeführt. Intelligente Messungen: Kontrollierte Umgebung: Flüssigkeiten oder Schutzgas, Temperaturkontrolle der Probe. Mögliche Integration von neuen SPM-Modi
