Materia Nova dispose d'une plateforme de caractérisation électrique complète de l'échelle macro à nano (4 pointes, effet Hall, C-AFM, KPFM, spectroscopie d'impédance).

Mesures effet hall

  • Meure de la conductivité électrique de films minces, cellules solaires, semi-conducteurs, … (analyse de matériaux ‘bulk’ possible)
  • Nature et densité des porteurs de charge
  • Mesure de la tension de Hall
  • Large gamme de température

Mesures de Résistivité

  • Meure de la résistivité de matériaux ‘bulk’ et/ou ‘surfacique’
  • Large gamme de résistivité : 10-5 – 1014 Ω.cm
  • Méthode applicable aux matériaux polymère

De plus, notre large panel de procédés de dépôt de surface permet d'adapter l'état de conduction électrique de surfaces (résistance de feuille (Rs ) sur plusieurs échelles de grandeur avec alliages, matériaux hybrides, MeOx, nanoparticules métalliques, matériaux carbonés, semi-conducteurs organiques, conductivité post-oxydation, métallisation de diélectriques (polymères, céramique…) et d'optimiser la conduction des matériaux dans la masse (bulk). 

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