Microscope Multimode 8 en atmosphère inerte

Equipement actualisé avec un controller Nanoscope V pour l’imagerie topographique, l’investigation locale de propriétés mécaniques (modes de balayage : Contact, Friction, Tapping et Peak Force Tapping (PFT)) et électriques (AFM conducteur et Peak Force TUNA). Instrumentation électronique additionnelle : SPECS (Nanonis) modes Non-Contact, Contact Résonant, AFM Modulé en Fréquence, Double Suivi Résonant en Fréquence, Microcopie à Force Piezoélectrique (PFM), Microscopie à Force de Kelvin (KPFM). Conditionnement sous gaz inerte et couplé à une chambre ALD (Dépôt de Couche Atomique) pour l’étude locale de propriétés de matériaux sous réactions chimiques modulées.

Notre point fort

  • Propriétés morphologiques et mécaniques de surfaces :Mesures de topographie, de rugosité standards et d’épaisseur de films, diversité de matériaux sans limite de taille ni d’épaisseur + Cartographie de propriétés d’adhésion, de déformation et de dissipation simultanément à la topographie.
  • Détermination du module d’Young local.
  • Propriétés électriques et mécanismes de transport de charges de matériaux (semi)conducteurs : cartographie locale de courant électrique, résistance, fonction de travail et potentiel de surface.
  • Haute résolution spatiale électrique. Sensibilité de mesures de courant < 100 fA. Mesures réalisées en environnement contrôlé.
  • Mesures intelligentes : Environnement contrôlé: liquides ou gaz inertes, contrôle en température de l’échantillon.
  • Intégration possible de nouveaux modes SPM