Mesure 4 pointes (Jandell Four-Point Probe, Van der Pauw, Conductive AFM et Kelvin Probe AFM)
Mesure de la conductivité, de la résistance de feuille (Rs) de couche mince de diélectriques et de métaux. Mesures macroscopiques en mode 4 pointes et Van Der Paw et nanométriques avec le C-AFM. Le Kelvin Probe AFM est utilisé pour la mesure du potentiel de surface à une résolution de 30 nm.
Notre point fort
- Une plateforme de caractérisation électrique complète de l'échelle macroscopique à l'échelle nanoscopique (4 pointes, effet Hall, C-AFM, KPFM, spectroscopie d'impédance) exploitable pour la mesure de performances/défaillance de dispositifs micro-électroniques, la validation des matériaux et procédés dans des dispositifs tels que les (O)LEDS, (O)PV, DSSC, électrodes transparentes, capteurs thermiques, revêtements métalliques. Nanotechnologie: nanoparticules, nanostructures auto-organisées, couches minces, CNT, fullerène, graphène, métaux (oxydes), nanofils, points quantiques, pérovskites ...
