Analyses physico-chimiques & Spectroscopiques
Spectromètre optique de type ICP-OES
Nouveau ToF-SIMS M6
Optima 7300dv de Perkin Elmer – Spectromètre optique de type ICP-OES
Mesure de l’angle de contact – Analyse de la tension de surface
TRIBOLAB (BRUKER)
Spectromètre micro-Raman Bruker Senterra
DIFFRACTION DES RAYONS X (DRX)
Spectromètre Infrarouge – IRTF
Microscope Electronique à Balayage (MEB )
Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires à Temps de Vol (ToF-SIMS)
Spectroscopie de Photoélectrons induits par rayons X (XPS)