Analyses physico-chimiques
Mesure de l’angle de contact – Analyse de la tension de surface
Spectromètre micro-Raman Bruker Senterra
DIFFRACTION DES RAYONS X (DRX)
Spectromètre Infrarouge (IRTF)
Microscope Electronique à Balayage (MEB )
Spectrométrie de Masse d’Ions Secondaires à Temps de Vol (ToF-SIMS)
Spectroscopie de Photoélectrons induits par rayons X (XPS)