Microscope Electronique à Balayage (MEB )
Le MEB-EDX est une technique d'analyse microscopique utilisant un canon à effet de champ (FEG en anglais pour Field Emission Gun) qui produit des images en très haute résolution de la surface d’un échantillon (résolution théorique de 1 nm). Cet outil d'analyse microscopique est particulièrement puissant et performant pour des diagnostics rapides (pollution, inclusion…) ou d’expertises plus complexes. Il est équipé d'un détecteur EDX (rayons X à Dispersion en Energie) qui permet de réaliser des analyses semi quantitatives et de réaliser des cartographies élémentaires afin d'observer la répartition des éléments présents.
Materia Nova dispose d'un microscope électronique de dernière génération équipé de :
- Détecteur à électron secondaire classique permettant d'observer le relief de l'échantillon
- Détecteur à électron rétrodiffusés permettant de déceler des phases de composition différente
- Détecteur Inlens pour obtenir des images à haute résolution et à basse tension (1,3 nm de résolution à 1kV), en topographie ou en composition
- Détecteur à électron transmis afin de réaliser des images en transmission (STEM)
- Détecteur EDX afin de réaliser des analyses de composition élémentaire