Notre nouvel équipement TOF-SIMS permet l'analyse d’extrême surface par spectroscopie de masse. Il est idéal pour identifier les composants chimiques d'un matériau à l'échelle nanométrique, sur une profondeur de l'ordre de 1 nm. Grâce à sa haute résolution spatiale et à sa grande sensibilité, il permet une analyse détaillée de la surface de l'échantillon. Cette technique est particulièrement utile pour la caractérisation des polymères, des céramiques, des métaux et des semi-conducteurs. Avec ce nouvel équipement, Materia Nova sera en mesure de proposer des analyses de surfaces encore plus précises et répondre aux besoins de ses clients en matière de caractérisation de matériaux.

Notre équipement de pointe permettra :

  • L'identification de pollutions chimiques en surface ou aux interfaces responsables de problèmes d'adhésion (collage, peinture, vernis, …)
  • La détermination précise de l'origine d'une défaillance
  • La validation de l'intégrité d'un traitement ou d'une fonctionnalisation de surface
  • L'identification de l’origine d’un problème de corrosion

Nos points forts :

  • Détermination de la composition élémentaire, isotopique ou moléculaire en extrême surface des échantillons (<1 nm de profondeur),
  • Résolution latérale jusqu’à 50 nm,
  • Identification atomique et moléculaire,
  • Profilage des matériaux inorganiques, même durs,
  • Profilage des matériaux organiques par agrégats d’Argon jusqu’à 20 µm,
  • Analyse sur coupe FIB permettant de réaliser une cartographie 3D sur environ 50*50*1 nm3,
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