Etude de contamination, corps étrangers et pollutions (poussières, particules, défauts de surface, …)
Définition/objectifs recherchés:
Materia Nova possède des équipements permettant l'analyse de contaminants ayant une taille allant jusqu'à l'ordre du micron. Les analyses peuvent être réalisées en surface (cartographie chimique) ou en profondeur (profils). Les polluants peuvent être caractérisés de manière précise : nature élémentaire, fragments moléculaires, morphologie,...
Mesure de la performance (tests normes et équipements)
-La spectrométrie à rayons X à dispersion d'énergie (EDS), combiné avec Microscopie électronique à balayage (MEB / SEM) fournit un outil rapide et efficace pour caractériser les particules et les défauts de l'ordre de 1µm ou plus. L’analyse par MEB-EDX permet d’identifier la présence des éléments chimiques à partir du béryllium sur tout type d’échantillon : métalliques, minéraux ou organique.
-La microscopie infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) est un outil intéressant pour l'analyse de très petites structures jusqu'au micromètre et est capable d'identifier la nature des composants organiques mais aussi inorganiques.
-La spectrometrie de photoélectrons X (XPS) permet l'analyse semi quantitative élémentaire. L'état d'oxydation du matériau peut également être connu grâce à cette technique
-Des comparaisons à des références peuvent être réalisées afin de permettre l’identification des particules.
Nos points forts
- Avec nos experts dans le domaine des matériaux, nous accompagnons les industriels dans l’identification de la nature et l’origine d’un défaut afin de mettre en place des actions correctives et préventives.
- De nombreuses mises en oeuvre : profil multicouche, adhesion issue, impurity identification