Etude de contamination, corps étrangers et pollutions (poussières, particules, défauts de surface, …)

Définition/objectifs recherchés:

Materia Nova possède des équipements permettant l'analyse de contaminants ayant une taille allant en deçà du micron.  Les analyses peuvent être réalisées en surface ou en profondeur (profils, cartographie chimique, FIB ...). Les polluants peuvent être caractérisés de manière précise : nature élémentaire, analyses moléculaires, morphologie, ...

Mesure de la performance (tests normes et équipements)

- La spectrométrie à rayons X à dispersion d'énergie (EDX), combiné avec la Microscopie électronique à balayage (MEB) fournit un outil rapide et efficace pour caractériser les particules et les défauts jusqu'à quelques dixièmes de nanomètres. De plus, l’analyse permet d’identifier la présence des éléments chimiques à partir du bore sur tout type d’échantillon : métalliques, minéraux ou organique.

-La microscopie infrarouge et Raman sont des équipements performants pour identifier la nature des composants organiques mais aussi inorganiques.

-La spectrométrie de photoélectrons X (XPS) permet l'analyse semi-quantitative élémentaire.  L'état d'oxydation du matériau peut également être connu grâce à cette technique

-Des comparaisons à des références peuvent être réalisées afin de permettre l’identification des particules.